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LED加速寿命和可靠性试验

   
    发布日期:2012-05-02         
阅读:111     
 
 

  摘要:LED的寿命和可靠性得到了业界的高度重视,但其试验方法极具挑战。目前已有关于LED寿命试验的标准相继出台,然而不同区域的标准要求又有所不同。本文分析了LED可靠性和寿命相关的关键指标,并以北美体系和国际电工委员会(IEC)体系为主线,介绍了LED加速寿命的试验方法。同时还介绍具有我国自主知识产权的LED加速老化和寿命测试系统能够满足现有各种标准要求,实现方便、快速、精准的智能化试验。

  1. 概述

  随着近年来LED光效的不断提升,LED的寿命和可靠性越来越受到业界的重视,它是LED产品最重要的性能之一。寿命是可靠性的终极表现,然而LED的理论寿命很长,像传统光源采用2h45min开、15min关的循环测试到寿命终了,对LED产品的测量显然不现实。因此有必要对LED产品采用加速老化寿命试验[1],同时,也应当测试LED的热学特性、环境耐候性、电磁兼容抗扰度等与寿命和可靠性密切相关的性能,以综合分析LED的寿命。

  2. LED可靠性和寿命相关的关键指标

  LED产品制造中的每一个元件和环节都会对其可靠性和寿命产生影响,例如,LED结和基板的虚焊、LED荧光粉的热猝灭和退化、封装材料的退化以及驱动器的失效等,最后退化的可能才是半导体(PN结)本身。这些因素导致LED产品失效(退化)的方式也不尽相同,一般可分为缓变退化(gradual degradation)和瞬变退化(abrupt degradation)。

  LED的缓变退化(失效)指标主要包括:

  流明维持率下降,即光衰,一般以初始光通量为100%,当LED产品的流明维持率下降到初始值的70%或50%时,认为LED失效,流明维持寿命相应记为L50或L70;

  颜色漂移,受到荧光粉或封装材料的变化,LED的颜色会在寿命期间内发生漂移,该漂移应在指定范围以内(如△u’v’≤0.007),超过范围则视为LED失效;

  电性能变化,电性能变化能更为直观地监测;

  开关次数,开关可能会对驱动等电路产生一定影响;

  热阻变化和其它热特性参数曲线,热特性与寿命息息相关,对热特性的测量和分析有助于找出LED可靠性的薄弱环节;

  LED的瞬变退化(失效)即LED的光输出突然降为0,其主要退化包括:抗电磁干扰能力:静电放电、雷击浪涌、快速群脉冲、周波跌落;高低温冲击耐受性特性;盐雾、耐湿、振动等。

  3. 相关标准要求

  针对LED的主要缓变退化,国际上已有相关标准相继发布,以是北美体系和国际照明委员会(IEC)体系最为典型,我国标准则基本融合了这两个体系。

  • ENERGY STAR® Program Requirements Product Specification ELigibility Criteria ;

  • IES LM-80-08 Approved Method for Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources;

  • IES TM-21-11 Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Packages

  • IEC/PAS 62717 LED modules for general lighting – Performance requirements

  • EC/PAS 62722-2-1 Luminaire Performance –Part 2-1: Particular requirements for LED luminaires

  • 我国的GB/T 24824、GB/T24823、QB/T4057等

  • 我国的GB/T XXXX LED加速寿命试验方法(尚未发布)

  3. 北美体系和IEC系统对LED寿命和寿命试验方法的要求

  北美体系和IEC系统在对LED产品的寿命要求和试验方法方面都有所区别,但针对于LED灯具寿命的评估,二者都提出直接老化测试灯具,或根据封装LED、LED模块等的老化试验进行推算。

  3.1 北美体系

  如表1所示,Energy Star将对LED灯具寿命的试验方法分为选项1和选项2,其中,选项1是通过测试光源推导灯具的寿命;而选项2仅适用于光源和灯具不可分的一体化灯具,直接测试灯具的光通维持率。选项1,L70(6k)的表示是指,利用6000h(6K)的老化测试推导出的流明维持寿命L70的时间。

  现对LM-80 和TM-21两个标准的要求总结如下:

  适用范围:LED封装、模块、阵列等;

  考察对象:只考察光通维持寿命,即缓变失效因素

  老化温度:指定点壳温(Ts)为55℃,85℃和第三个指定温度,三个温度覆盖灯具中LED光源的Ts温度。

  老化时间:6000h,推荐10000h;

  样本数量要求及其与外推寿命时间的关系:20个以上样品,外推寿命最高为老化时间的6倍;10-19个,外推寿命最高为老化时间的5.5倍;

  光色参数测试时间:至少每1000h测量一次;

  对突然失效的处理:观察记录,调查确认突然失效是因为光源本身原因;

  记录颜色衰变:有;

  数据记录:每个LED的光通维持、中间值、标准偏差、最小和最大光通维持率值;

  曲线拟合:1. 以初始值为1,归一化光通维持率;

  2. 在每个测量点,求得测试样品归一值的平均值;

  利用上述测量装置,还可在不同的环境温度下(高温状态),测量被测LED的光色度,获得LED光度-环境温度曲线(温度特性试验)。图2为典型的LED 相对光通量随环境温度的变化曲线,满足IES LM-82-11[2]以及关于CFL[3]的国内外标准的要求。

  5. 小结

  影响LED产品寿命和可靠性的因素有很多,相关的测试也较为复杂,其中最重要的是光通维持率测试,虽然已出台的国际标准要求不尽相同,但基本的试验方法和装置要求基本相同。在国家863课题的支持下,我国已自主开发了具有高智能化的加速老化和寿命测试系统,使我国工业界能够进行操作简便、高精度、低成本的光通维持寿命检测,同时该系统还可测试光色参数随环境温度变化的曲线,满足最新国际标准要求即发展趋势。此外,我国在LED的热电光综合分析系统和电磁兼容测试等方面也取得了诸多突破,建立了LED可靠性预测机制及BP(Back Propagation)神经网络模型[4],为更全面地考察LED的寿命和可靠性提供了技术支持和装备保障。

  参考文献

  [1] H.Shen, J.Pan, H.Feng. Accelerated life test for high-power white LED based on spectroradiometric measurement. SPIE Photonics Asia 2007,Beijing, 2007.

  [2] IES Approved Method for the Characterization of LED Light Engines and LED Lamps for Electrical and Photometric Properties as a Function of Temperature

  [3] ENERGY STAR® Program Requirements for CFLs ENERGY STAR Eligibility Criteria Energy-Efficiency Criteria – Version 4.3

  [4] 沈海平,大功率LED 可靠性预测机制研究,博士毕业论文,2008.

 

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