专注行业ERP管理软件二十年,成就发展梦想
 
 站内搜索
 
EDC系列软件   EDC系列软件
   
 
 
 
 
 
 
dg
 
解决方案   解决方案
   
 
 
 
 
 
 
dg
 
联系方式
 
电话:0755-29165342
传真:0755-29183559
咨询热线:13544129397
联系人:刘先生
dg
 
关于EDC
 
联系我们
 
解决方案
 
新闻中心
您当前所在位置:首页 > 新闻中心
 
d
 
解决工业级系统失效率和寿命的方案中的应用举措及新趋势

    作者:宏拓新软件
    发布日期:2023-11-27         
阅读:36     
 
 

当今系统可靠性设计和分析成为工业级系统的一个重要举措,由此也遇到了更多的挑战,如静电放电(ESD)和电磁干扰(EMl)及其一些极端应用环境,如航空航天、汽车和医疗领域。这些已成为设计能否顺利及时完成和产品使用寿命的关键。应该说,影响设计完成和产品与系统使用寿命特殊性和重要性的因素由多种,而普遍而又突出是SiC MOSFET可靠性保护与IGBT和MOSFET免受ESD损坏是关系并成为到工业级系统失效率和寿命的痛点与挑战。这是工业级系统设计者与厂商必须应对的重要热点所在。

值此本文仅将对SiC MOSFET的快速短路检测与保护和IGBT和MOSFET免受ESD损坏与静电击穿及新型静电防护技术等二大热点作研讨。与此同时对伴随可靠性解决方案中的SiC MOSFET的快速短路检测与保护及高速SoC和RFIC电磁串扰解决方案应用中的举措及新趋势作分析说明。

SiC功率MOSFET短路测试平台

 

 

详细内容请查看附件

 

[打印本页]  [关闭窗口] 

 
 
 
深圳市宏拓新软件有限公司   电话:0755-29165342 29165247  传真:0755-29183559   24小时咨询热线:13544129397   联系人:刘先生    网站地图 深圳市市场监督管理局企业主体身份公示
地址:深圳市龙华区民治街道东边商业大厦6楼  Copyright © 2004 - 2025 EDC Corporation, All Rights Reserved 粤ICP备06070166号
 
   点我QQ咨询
手机:13544129397

可以介绍下你们的产品么

你们是怎么收费的呢

你们软件能试用吗?

能给我发点资料吗?

请您留言

感谢您的关注,当前客服人员不在线,请填写一下您的信息,我们会尽快和您联系。

提交